オンライン検査システム

• MEIX 3 D Cube-XLの自動光学検査

  MEIX 3 D Cube-XL自動光学検査豊富なアルゴリズム、3 D、Al、およびカラーフィーチャーアルゴリズムの組み合わせにより、欠陥の検出率を最適化します。

  read more
• MEIX 3D Cube-D Automated Optical

  MEIX 3D Cube-D Automated Optical Inspection Rich algorithm, the combination of 3D, Al and color feature algorithms to optimize the detection rate of the defects.

  read more
• MEIX 3D AOI-Cube Automated Optic

  Rich algorithm, the combination of 3D, Al and color feature algorithms to optimize the detection rate of the defects.

  read more
• MEIX XL 3D AXI Automated 3D X-Ra

  MEIX inline XL 3D AXl is suitable for inline non-destructive inspection of SMT, DlP and lGBTsemiconductors. Covering BGA/LGA/CSP, SOP/QFP/QFN, Transistors, R/C-lGBT, Bottom Electrodes,Power Modules, POP, Connectors, THT

  read more
• MEIX 3D AXI 自動 3D X 線インライン検査機

  MEIX インライン 3D AXl は、SMT、DIP、および IgG 半導体のインライン非破壊検査に適しています。BGA/LGA/CSP、SOP/QFP/QFN、トランジスタ、R/C-IgG、下部電極、パワー モジュール、POP、コネクタ、THT コンポーネントなどをカバーします。

  read more
• MEIX 3 D SPI-Icon-Dソルダーペースト検査

  MEIX 3 D SPl-lcon-Dシリーズは、SMTスクリーン印刷後の3 Dはんだペースト検査に適しています。

  read more
• MEIX 3 D SPIアイコンはんだペースト検査

  MEIX 3 D SPl-lconシリーズは、SMTスクリーン印刷後の3 Dはんだペースト検査に適しています。

  read more